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Guggenheim Museum: In die Tiefe geblickt

Guggenheim Museum: In die Tiefe geblickt

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Clemens Walkowiak


Premium (Basic), Berlin

Guggenheim Museum: In die Tiefe geblickt

Von oben in die Tiefe fotografiert: Guggenheim Museum in New York

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Dossier Menschen im Museum
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Exif

APN PENTAX K-1 Mark II
Objectif HD PENTAX-D FA 15-30mm F2.8 ED SDM WR
Ouverture 10
Temps de pose 1/160
Focale 15.0 mm
ISO 3200

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